其他
SanjSCOPE 高分辨率反射热成像仪
一
设备简介
高分辨率反射热成像仪
SanjSCOPE
反射热成像仪通过测量发热器件对于特定波长光源的反射光强度,再根据“反射率-温度系数”曲线进行计算,从而获得器件表面温度分布。与红外热成像相比,反射热成像是有源检测,采用可见光作为光源,其温度空间分布测量精度提高到一个数量级,可以达到亚微米级别,而且测量过程不依赖材料的辐射系数。SanjSCOPE高分辨率反射热成像仪采用Lock-in 手段的反射率热成像技术,结合数字信号处理手段以及软件算法,实现亚微米级别微器件的高空间分辨率、高时间分辨率、高温度分辨率的热成像分析。
二
厂家型号
● SanjSCOPE LLC., NT220C
三
技术指标
● 空间分辨率:452nm;
● 瞬态时间分辨率:100ns;
● 有效热像素点:2048×2048;
● 探测器光谱范围365nm到800nm;
● 帧速率:30fps;
● 物镜放大倍数和数值孔径:
物镜 5SVIS35,5×,NA =0.15
物镜20SVIS22,20×,NA=0.4
物镜100SVIS14,100×,NA=0.52;
● 热盘工作面积 125mm × 125mm, 散热功率500W
四
主要附件
● 探针台GPS-200,定标工具AFP-200
五
主要应用
● 主要应用于亚微米级别的热成像分析,如对半导体器件、微纳器件进行热分析,测试器件表面温度分布,分析器件的瞬态热成像过程